一种基于AI算法的集成电路芯片测试系统

本发明公开了一种基于AI算法的集成电路芯片测试系统，涉及集成电路芯片测试技术领域，包括芯片测试平台，所述芯片测试平台通信连接有如下模块，其中：数据获取模块，用于从现有的集成电路芯片测试设备中收集历史测试数据，并对其进行预处理，整合得到芯片测试数据集；模型训练优化模块，用于分析芯片测试数据集，学习芯片性能与测试向量之间的关系，并训练测试向量AI优化模型。本发明通过分析历史测试数据，自动生成优化的测试向量，避免传统测试中冗余的逐项测试流程，通过测试向量AI优化模型精准定位关键测试节点，减少不必要的测试步骤，从而显著缩短测试时间，提高测试效率。