基于深度学习的杂质检测方法、装置、设备、介质和产品

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基于深度学习的杂质检测方法、装置、设备、介质和产品
申请号:CN202510838028
申请日期:2025-06-23
公开号:CN120355708B
公开日期:2025-09-16
类型:发明专利
摘要
本公开的实施例公开了基于深度学习的杂质检测方法、装置、设备、介质和产品。该方法的一具体实施方式包括:获取再生资源对应各个角度的多光源图像组集;对多光源图像组集进行预处理,得到预处理后的多光源图像组集;对预处理后的多光源图像组集进行通道级融合,得到融合图像组;将融合图像组输入预先训练的特征提取模型,得到多尺度特征图组集;根据多尺度特征图组集,生成掩膜数据组;根据掩膜数据组和预处理后的多光源图像组集,生成带标注的图像组;根据带标注的图像组,生成再生资源所对应的杂质检测信息。该实施方式通过使用深度学习的方法实现了较为高效、精准且智能化的杂质检测。
技术关键词
多尺度特征 可见光图像 生成掩膜数据 生成带标注 特征提取模型 多光源 杂质检测方法 通道 非金属 杂质检测装置 像素 编辑 校正 处理器