一种存储芯片高低温老化试验箱故障自诊断系统、方法和计算机设备

本发明涉及故障诊断技术领域，特别涉及一种存储芯片高低温老化试验箱故障自诊断系统、方法和计算机设备。本发明通过温控系统传感器数据获取温控异常指数，能够在温控系统出现异常波动时及早预警，风系统效能系数提供了风循环系统的性能评估依据，通过加热制冷系统传感器数据获取加热效率和制冷系数，评估加热制冷系统的性能，通过测试系统传感器数据获取电气稳定性指标，评估电气系统的运行稳定性并及时检测电气系统的稳定性，通过系统熵增率、电气稳定性指标、热力耦合因子、风系统效能系数和温控异常指数获取故障概率指数，从而不仅能够提升设备的稳定性和可靠性，还能够降低维护成本，提高设备的使用效率，确保试验结果的准确性和安全性。