一种电阻片外观缺陷检测方法及系统

本发明公开了一种电阻片外观缺陷检测方法及系统，涉及缺陷检测技术领域，包括：训练泛用外观缺陷检测模型；构建每个外观缺陷对应的关联缺陷拓扑组；对泛用外观缺陷检测模型进行迁移训练，得到外观缺陷对应的关联缺陷针对性增强检测模型；调用泛用外观缺陷检测模型对电阻片进行外观缺陷检测，当检测到外观缺陷时，在设定的增强周期内，同时调用外观缺陷对应的关联缺陷针对性增强检测模型对电阻片进行外观缺陷增强检测；基于电阻片的外观缺陷检测数据对泛用外观缺陷检测模型进行增量学习优化。本发明的优点在于：通过构建关联缺陷拓扑组与迁移训练机制，形成具有工艺感知能力和自主进化特性的智能化缺陷检测体系。