待测模块的验证方法及设备

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待测模块的验证方法及设备
申请号:CN202510844197
申请日期:2025-06-23
公开号:CN120745524A
公开日期:2025-10-03
类型:发明专利
摘要
本申请提供了一种待测模块的验证方法及设备,涉及芯片验证技术领域。参考模型在每接收到一个数据包后,生成并保存与该数据包对应的至少一个查表信息,并将生成的与该数据包对应的第一处理结果及数据包标识发送给比较器,查表信息中包括查表结果,查表信息与对应的数据包标识对应保存;待测模块基于当前产生的第二目标查表请求所对应的目标数据包标识,从参考模型保存的查表信息中获得对应的目标查表结果,进而生成的第二处理结果及目标数据包标识发送给比较器;比较器根据同一数据包标识对应的第一处理结果及第二处理结果,获得比较结果,比较结果用于确定验证结果。如此,可减少仿真停止的时间点和真正出现错误输出的时间点不能对齐的情况。
技术关键词
待测模块 标识 队列 验证方法 验证设备 芯片验证技术 验证系统 数据