一种自由曲面在机测量方法及系统
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一种自由曲面在机测量方法及系统
申请号:
CN202510846216
申请日期:
2025-06-24
公开号:
CN120820120A
公开日期:
2025-10-21
类型:
发明专利
摘要
本申请公开了一种自由曲面在机测量方法及系统,涉及曲面在机测量技术,包括如下步骤:对待测曲面进行自适应测量点布置;对在机测量过程中的测量点检测顺序进行规划;对在机测量采集后的测量点数据进行处理;对数据处理后的测量点,采用双三次NURBS曲面插值重构,获得待测表面的真实形状。本申请实施例的方法用于实现高效的获取待测表面真实形貌信息,作为后续打印轨迹的调整的依据,以提高曲面多层电路的打印精度。
技术关键词
测量点
测量方法
待测表面
节点
NURBS曲面
规划
采样点
曲线
模拟退火算法
参数化方法
重构
布置测点
多层电路
控制点
邻域
序列
数据
定位点
直线段